SI physique : diffraction et interférences
Comment une ouverture peut-elle élargir un faisceau et deux lumières produire une zone sombre ?
Environ 35 minutes
- Caractériser la diffraction
- Établir les conditions d’interférences
- Mesurer une longueur d’onde
Comment une ouverture peut-elle élargir un faisceau et deux lumières produire une zone sombre ?
Le modèle du rayon rectiligne devient insuffisant lorsque l’on étudie une petite ouverture ou deux trajets cohérents. La description ondulatoire explique ces observations et permet de mesurer des dimensions très petites. Nous étudions des ondes sinusoïdales dans un milieu homogène, puis des montages lumineux à petits angles. Prérequis : longueur d’onde, période, trigonométrie élémentaire et conversions entre mètres, millimètres et nanomètres. Les profils dessinés sont des modèles idéaux ; les dispositifs réels présentent une enveloppe, des défauts et un bruit de mesure.
Reconnaître une diffraction
Une onde qui traverse une ouverture ne reste pas nécessairement limitée à la direction de propagation initiale. Elle s’étale : c’est la diffraction. Le phénomène existe pour les ondes mécaniques et électromagnétiques. Il est particulièrement marqué lorsque la dimension caractéristique de l’ouverture est de l’ordre de la longueur d’onde. À ouverture fixée, une longueur d’onde plus grande produit un étalement angulaire plus important. La fréquence reste celle de la source ; une diffraction ne crée pas une nouvelle fréquence.
Pour une fente rectangulaire fine de largeur a éclairée par une lumière monochromatique de longueur d’onde λ, le premier minimum vérifie sin θ = λ/a dans le modèle de diffraction lointaine. Si θ est petit en radians, θ ≈ λ/a. θ est le demi-angle entre l’axe central et le premier minimum, pas l’angle total de la tache. Le montage étudié suppose un écran suffisamment éloigné et une fente dont l’autre dimension est grande devant a. On n’utilise pas cette relation sans précaution pour une ouverture circulaire.
À une distance D de la fente, la largeur ℓ de la tache centrale vaut géométriquement 2D tan θ. Avec les petits angles, tan θ ≈ θ, donc ℓ ≈ 2Dλ/a. Les longueurs doivent être exprimées dans une même unité. Cette relation permet de trouver a à partir d’une largeur mesurée. La diminution de a augmente ℓ : une ouverture plus étroite peut donc donner une tache centrale plus large, malgré la réduction de la quantité totale de lumière transmise.
Exemple résolu
Une fente de largeur a = 0,100 mm est éclairée par un laser de longueur d’onde 600 nm. L’écran se trouve à D = 2,00 m. Estimer le demi-angle et la largeur de la tache centrale.
- Étape 1 : Convertir : a = 1,00 × 10⁻⁴ m et λ = 6,00 × 10⁻⁷ m. Le rapport λ/a vaut 0,00600.
- Étape 2 : θ ≈ 0,00600 rad : l’angle est bien petit. La largeur vaut ℓ ≈ 2 × 2,00 × 0,00600 = 0,0240 m.
- Étape 3 : Convertir le résultat en millimètres pour le confronter à une mesure sur l’écran.
Résultat : Le demi-angle est d’environ 6,00 × 10⁻³ rad et la tache centrale mesure environ 24,0 mm.
Piège à éviter : Prendre Dλ/a donnerait seulement la demi-largeur de la tache centrale.
À toi d'essayer
On remplace un laser rouge par un laser de longueur d’onde plus courte, sans modifier la fente ni l’écran. La tache centrale s’élargit-elle ?
Voir la réponseMasquer la réponse
Non : ℓ est proportionnelle à λ dans le même montage. Une longueur d’onde plus courte réduit la largeur de la tache. Ce raisonnement ne nécessite pas de connaître la puissance des lasers.
Superposer deux ondes cohérentes
Dans un milieu où la superposition est valable, les perturbations s’additionnent au point de rencontre. Deux ondes en phase peuvent se renforcer ; deux ondes en opposition de phase peuvent s’affaiblir. Pour observer une figure d’interférences stable, il faut une relation de phase stable dans le temps entre les deux ondes : elles sont cohérentes. Deux lampes indépendantes ne fournissent généralement pas cette condition. On obtient souvent deux sources secondaires cohérentes en partageant la lumière d’une même source.
Considérons deux sources ponctuelles S₁ et S₂ émettant en phase, à la même fréquence dans un milieu homogène. En un point M, la différence de marche est δ = S₂M − S₁M. Le déphasage dû aux trajets vaut 2πδ/λ, à un multiple de 2π près. Si δ = kλ, avec k entier positif, négatif ou nul, les deux perturbations arrivent en phase : les interférences sont constructives. Si δ = (k + 1/2)λ, elles arrivent en opposition de phase : les interférences sont destructives.
L’annulation totale lors d’une interférence destructive exige en plus des amplitudes égales et, pour la lumière, des conditions de polarisation compatibles. Sinon, on obtient un minimum non nul. Il faut distinguer addition des amplitudes et addition des intensités : pour deux ondes cohérentes, un terme d’interférence intervient. Une zone sombre ne signifie pas que l’énergie a disparu partout ; la répartition spatiale présente aussi des zones renforcées. Les conditions simples en δ supposent des sources en phase ; un déphasage initial modifierait leur écriture.
Exemple résolu
Deux sources en phase émettent une onde de longueur d’onde 0,040 m. En un point A, la différence de marche vaut 0,120 m ; en un point B, elle vaut 0,100 m. Classer les interférences.
- Étape 1 : Calculer les rapports à la longueur d’onde : δA/λ = 0,120/0,040 = 3 ; δB/λ = 0,100/0,040 = 2,5.
- Étape 2 : Le premier rapport est entier : les ondes arrivent en phase en A. Le second est de la forme k + 1/2 avec k = 2 : elles arrivent en opposition en B.
- Étape 3 : L’information sur les amplitudes détermine si le minimum en B peut être nul.
Résultat : Les interférences sont constructives en A et destructives en B. L’annulation en B nécessite des amplitudes égales.
Piège à éviter : Une différence de marche non nulle n’implique pas une opposition de phase : trois longueurs d’onde redonnent la même phase.
À toi d'essayer
Deux trajets ont exactement la même longueur. Les sources ont la même fréquence mais émettent en opposition de phase. Les interférences sont-elles constructives ?
Correction détaillée pas à pasDans ce chapitre : 2 corrections détaillées.
Mesurer un interfrange
Dans le dispositif des fentes de Young, deux fentes fines séparées d’une distance b produisent des franges alternativement claires et sombres. On distingue b, écartement des fentes, de a, largeur de chacune. Dans les conditions usuelles de petit angle et d’écran lointain, la différence de marche varie approximativement comme bx/D. Les maxima successifs sont espacés de i = λD/b : i est l’interfrange. Cette expression est à exploiter dans le cadre annoncé ; elle ne signifie pas que toute figure d’interférences possède le même espacement.
Les fentes ont une largeur finie, donc leur diffraction module la luminosité des franges. L’enveloppe de diffraction et les franges d’interférences se superposent dans un même motif. Modifier la largeur a agit surtout sur l’enveloppe ; modifier la séparation b agit sur l’interfrange. Pour mesurer i, il est préférable de mesurer plusieurs intervalles entre maxima puis de diviser par leur nombre. Entre le premier et le sixième maximum, on compte cinq intervalles, et non six.
Exemple résolu
Un écran est à 1,50 m de deux fentes séparées de 0,300 mm. La distance entre six maxima consécutifs est 15,0 mm. Déterminer l’interfrange puis la longueur d’onde.
- Étape 1 : Six maxima consécutifs délimitent cinq interfranges. Donc i = 15,0/5 = 3,00 mm = 3,00 × 10⁻³ m.
- Étape 2 : Isoler λ dans i = λD/b : λ = ib/D. Convertir b = 3,00 × 10⁻⁴ m.
- Étape 3 : λ = (3,00 × 10⁻³)(3,00 × 10⁻⁴)/1,50 = 6,00 × 10⁻⁷ m.
Résultat : L’interfrange est 3,00 mm et la longueur d’onde déduite est 600 nm.
Piège à éviter : Compter les maxima au lieu des intervalles sous-estimerait l’interfrange et la longueur d’onde.
À toi d'essayer
On éloigne l’écran tout en augmentant dans la même proportion l’écartement des deux fentes. L’interfrange change-t-il ? La largeur de l’enveloppe reste-t-elle nécessairement identique ?
Correction détaillée pas à pasDans ce chapitre : 2 corrections détaillées.
Construire une preuve expérimentale
Mesurer sans confondre les motifs
- Sous la supervision du professeur, orienter un laser vers un écran fixe, hors de toute direction susceptible d’atteindre les yeux. Ne jamais regarder le faisceau ni une réflexion spéculaire.
- Identifier le montage : une fente pour étudier la largeur de diffraction, deux fentes pour mesurer un interfrange. Noter séparément largeur, écartement et distance à l’écran.
- Relever plusieurs mesures en conservant une échelle visible sur l’écran. Éviter les images saturées : une zone surexposée brouille la position des minima.
- Évaluer la dispersion et les limites instrumentales. Pour étudier la diffraction, comparer ℓ lorsque a change ; pour les interférences, comparer i lorsque b change. Ne modifier qu’un paramètre à la fois.
La résolution d’un instrument optique est limitée par la diffraction : un point lumineux ne produit pas toujours un point infiniment fin. Une ouverture plus grande peut réduire l’étalement angulaire, mais les aberrations et les conditions de mesure interviennent aussi. Les interférences, quant à elles, rendent de petites différences de trajet observables sous forme de déplacements de franges. Le modèle explique ainsi à la fois une limite de l’imagerie et un moyen de mesure précis.
Au bac : identifier avant de calculer
- Nommer le phénomène à partir de la description et du montage, pas uniquement du mot lumière. Relever la grandeur demandée : angle, largeur de tache, interfrange ou différence de marche.
- Écrire les hypothèses de la relation utilisée. Définir chaque symbole pour ne pas confondre a et b, ni θ et l’angle total.
- Effectuer les conversions avant le calcul. Vérifier la cohérence des tendances : une fente plus étroite élargit la diffraction ; deux fentes plus éloignées rapprochent les franges.
- Conclure avec l’unité et une limite du modèle si elle compte dans l’interprétation. Une concordance numérique ne remplace pas l’identification physique du phénomène.
Erreurs fréquentes : utiliser des degrés dans θ ≈ λ/a, confondre un demi-angle avec l’ouverture totale, annoncer une annulation sans égalité d’amplitudes ou appliquer les conditions de sources en phase à des sources déphasées.
Vocabulaire et synthèse
Vocabulaire
- Diffraction :
- Étalement d’une onde lié à une ouverture ou un obstacle.
- Cohérence :
- Stabilité de la relation de phase entre deux ondes.
- Différence de marche :
- Différence entre les longueurs des deux trajets vers un point.
- Interfrange :
- Distance entre deux franges brillantes successives dans le montage considéré.
Bilan
| Situation | Relation et conditions |
|---|---|
| 1 | La diffraction est plus marquée lorsque la longueur d’onde augmente à ouverture fixée. |
| 2 | Pour une fente fine et aux petits angles, θ ≈ λ/a et ℓ ≈ 2Dλ/a. |
| 3 | Deux sources en phase donnent un maximum pour δ = kλ et un minimum pour δ = (k + 1/2)λ. |
| 4 | L’interfrange de Young vaut i = λD/b dans les conditions du modèle. |
S’entraîner
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À retenir
- La diffraction est plus marquée lorsque la longueur d’onde augmente à ouverture fixée.
- Pour une fente fine et aux petits angles, θ ≈ λ/a et ℓ ≈ 2Dλ/a.
- Deux sources en phase donnent un maximum pour δ = kλ et un minimum pour δ = (k + 1/2)λ.
- L’interfrange de Young vaut i = λD/b dans les conditions du modèle.
Fiche de révision
Sur un dessin, repère d’abord les deux premiers minima qui délimitent la tache centrale.
Pour tester une opposition de phase, divise la différence de marche par λ et cherche un demi-entier, après contrôle de la phase initiale.
Une mesure couvrant huit intervalles se divise par huit, même si elle relie neuf maxima.
Réduire la séparation des fentes élargit l’interfrange ; réduire leur largeur élargit l’enveloppe de diffraction.
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